利用表面涂層測(cè)厚儀進(jìn)行手機(jī)膜厚度測(cè)量是一無損害的測(cè)量方式，不會(huì)對(duì)手機(jī)膜造成損害。通過這款專業(yè)儀器測(cè)量手機(jī)膜厚度，可以在同等條件下讓手機(jī)鋼化膜厚度得到更好的控制，因此生產(chǎn)出更高質(zhì)量、更耐用的手機(jī)鋼化膜。

使用表面涂層測(cè)厚儀測(cè)量手機(jī)鋼化膜的厚度過程中，應(yīng)盡量保證專人專用和保管儀器。這是因?yàn)殚L期讓高精度的涂層測(cè)厚儀處于工作狀態(tài)可能會(huì)加快儀器的損壞程度，也會(huì)使最終的測(cè)量結(jié)果異常。在儀器工作時(shí)也要保持環(huán)境的穩(wěn)定，減少磁場(chǎng)和人為因素的影響。不隨意拆卸儀器，減少儀器受外物腐蝕的情況。

用表面涂層測(cè)厚儀https://www.linshangtech.cn/tech/tech641.html進(jìn)行手機(jī)膜厚度測(cè)量是同等條件下較為簡單便利同時(shí)精確度又比較高的一種方法。在科研中針對(duì)薄膜也有一些測(cè)量方式，比如作為橢偏儀的光學(xué)測(cè)量儀器，或者專業(yè)用于測(cè)量薄膜厚度的臺(tái)階儀。還有光學(xué)顯微鏡、掃描電子顯微鏡、原子力顯微鏡等。這些儀器可以分為接觸式的和非接觸式的。接觸式的有比如臺(tái)階儀探針，但這種儀器測(cè)量具有破壞性，對(duì)于非常薄的物體測(cè)量起來有困難，也容易造成破壞。非接觸式的通常采用光學(xué)測(cè)量儀器用光學(xué)方法進(jìn)行測(cè)量，雖然測(cè)量分辨率精確度高，但是應(yīng)用光學(xué)原理因此局限于只能測(cè)量透明和半透明的膜，如橢偏儀等。實(shí)際上在工業(yè)領(lǐng)域要獲得這些儀器并不容易，操作起來也較困難。因此在一般需要高精度的對(duì)手機(jī)膜進(jìn)行厚度測(cè)量時(shí)，多采用的是高精度涂層測(cè)厚儀進(jìn)行測(cè)量。