SuperViewW1白光干涉儀測(cè)薄膜膜厚能夠以優(yōu)于納米級(jí)的分辨率，對(duì)各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺(tái)階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測(cè)量和分析。儀器具有測(cè)量精度高、功能全面、操作便捷、測(cè)量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)，測(cè)量單個(gè)精密器件的過(guò)程用時(shí)2分鐘以內(nèi)，確保了高款率檢測(cè)。并且其特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測(cè)量。

結(jié)果組成：

1、三維表面結(jié)構(gòu)：粗糙度，波紋度，表面結(jié)構(gòu)，缺陷分析，晶粒分析等；

2、二維圖像分析：距離，半徑，斜坡，格子圖，輪廓線等；

3、表界面測(cè)量：透明表面形貌，薄膜厚度，透明薄膜下的表面；

4、薄膜和厚膜的臺(tái)階高度測(cè)量；

5、劃痕形貌，摩擦磨損深度、寬度和體積定量測(cè)量；

6、微電子表面分析和MEMS表征。

性能特點(diǎn)

1、3D測(cè)量

白光干涉儀測(cè)薄膜膜厚采用白光干涉技術(shù)，結(jié)合具有抗噪性能的3D重建算法，真實(shí)還原樣品的每一個(gè)細(xì)節(jié)，隨意翻轉(zhuǎn)縮放，輕松觀察、測(cè)量樣品的任意特征。

2、功能全

粗糙度、平面度、孔洞分析等3D測(cè)量功能全部囊括，距離、角度、直徑測(cè)量等2D輪廓分析功能覆蓋，有依據(jù)ISO|ASME|EUR|GBT四大國(guó)內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)的300余種特征參數(shù)

3、操作便捷

直觀的操作界面，操作流程一目了然，自動(dòng)聚焦，一鍵實(shí)現(xiàn)測(cè)量過(guò)程；可視化的工作流程樹(shù)，一鍵激活的圖庫(kù)管理功能，所見(jiàn)即所得的分析功能，有一鍵分析功能，批量測(cè)量不用愁。

4、高重復(fù)精度

采用了掃描模塊和內(nèi)部抗振設(shè)計(jì)，可實(shí)現(xiàn)高0.05%的測(cè)量精度重復(fù)性和0.002nm的粗糙度RMS重復(fù)性。

W1白光干涉儀測(cè)薄膜膜厚提供1100單鏡頭手動(dòng)版和1200多鏡頭自動(dòng)版兩種機(jī)型，另可針對(duì)不同的客戶需求，在兩種型號(hào)間選取不同配置進(jìn)行組合，讓儀器切合客戶需求，貼心省力。