SuperViewW1白光干涉儀測薄膜膜厚能夠以優(yōu)于納米級的分辨率，對各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測量和分析。儀器具有測量精度高、功能全面、操作便捷、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點，測量單個精密器件的過程用時2分鐘以內(nèi)，確保了高款率檢測。并且其特殊光源模式，可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測量。

結(jié)果組成：

1、三維表面結(jié)構(gòu)：粗糙度，波紋度，表面結(jié)構(gòu)，缺陷分析，晶粒分析等；

2、二維圖像分析：距離，半徑，斜坡，格子圖，輪廓線等；

3、表界面測量：透明表面形貌，薄膜厚度，透明薄膜下的表面；

4、薄膜和厚膜的臺階高度測量；

5、劃痕形貌，摩擦磨損深度、寬度和體積定量測量；

6、微電子表面分析和MEMS表征。

性能特點

1、3D測量

白光干涉儀測薄膜膜厚采用白光干涉技術(shù)，結(jié)合具有抗噪性能的3D重建算法，真實還原樣品的每一個細(xì)節(jié)，隨意翻轉(zhuǎn)縮放，輕松觀察、測量樣品的任意特征。

2、功能全

粗糙度、平面度、孔洞分析等3D測量功能全部囊括，距離、角度、直徑測量等2D輪廓分析功能覆蓋，有依據(jù)ISO|ASME|EUR|GBT四大國內(nèi)外標(biāo)準(zhǔn)的300余種特征參數(shù)

3、操作便捷

直觀的操作界面，操作流程一目了然，自動聚焦，一鍵實現(xiàn)測量過程；可視化的工作流程樹，一鍵激活的圖庫管理功能，所見即所得的分析功能，有一鍵分析功能，批量測量不用愁。

4、高重復(fù)精度

采用了掃描模塊和內(nèi)部抗振設(shè)計，可實現(xiàn)高0.05%的測量精度重復(fù)性和0.002nm的粗糙度RMS重復(fù)性。

W1白光干涉儀測薄膜膜厚提供1100單鏡頭手動版和1200多鏡頭自動版兩種機(jī)型，另可針對不同的客戶需求，在兩種型號間選取不同配置進(jìn)行組合，讓儀器切合客戶需求，貼心省力。