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半導(dǎo)體器件參數(shù)測試儀iv+cv電性能分析儀優(yōu)勢：

IV、CV一鍵測；一體機(jī)，支持遠(yuǎn)程指令控制；支持三同軸接探針臺(tái)

能夠覆蓋從材料、晶圓、器件到模塊的測試

產(chǎn)品特點(diǎn)：

30μV-1200V；1pA-100A寬量程測試能力；

測量精度高，全量程下可達(dá)0.03%精度；

內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)器件測試程序，直接調(diào)用測試簡便；

自動(dòng)實(shí)時(shí)參數(shù)提取，數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù)；

在CV和IV測量之間快速切換而無需重新布線；
提供靈活的夾具定制方案，兼容性強(qiáng)；

免費(fèi)提供上位機(jī)軟件及SCPI指令集；

典型應(yīng)用：

納米、柔性等材料特性分析；

二極管；

MOSFET、BJT、晶體管、IGBT；

第三代半導(dǎo)體材料/器件；

有機(jī)OFET器件；

LED、OLED、光電器件；

半導(dǎo)體電阻式等傳感器；

EEL、VCSEL、PD、APD等激光二極管；

電阻率系數(shù)和霍爾效應(yīng)測量；

太陽能電池；

非易失性存儲(chǔ)設(shè)備；

失效分析；

系統(tǒng)技術(shù)規(guī)格

半導(dǎo)體器件參數(shù)測試儀iv+cv電性能分析儀訂貨信息

硬件指標(biāo)-IV測試

半導(dǎo)體材料以及器件的參數(shù)表征，往往包括電特性參數(shù)測試。絕大多數(shù)半導(dǎo)體材料以及器件的參數(shù)測試，都包括電流-電壓(I-V)測量。源測量單元(SMU)，具有四象限，多量程，支持
四線測量等功能，可用于輸出與檢測高精度、微弱電信號(hào)，是半導(dǎo)體|-V特性測試的重要工具之-。SPA-6100配置有多種不同規(guī)格的SMU,如低壓直流SMU,低壓脈沖SMU,大電流SMU。用戶可根據(jù)測試需求靈活配置不同規(guī)格,以及不同數(shù)量的搭配，實(shí)現(xiàn)測試測試效率與開支的平衡。

靈活可定制化的夾具方案

針對(duì)市面上不同封裝類型的半導(dǎo)體器件產(chǎn)品,普賽斯提供整套夾具解決方案。夾具具有低阻抗、安裝簡單、種類豐富等特點(diǎn)，可
用于二極管、三極管、場效應(yīng)晶體管、IGBT、SiC  MOS、GaN等單管，模組類產(chǎn)品的測試;也可與探針臺(tái)連接，實(shí)現(xiàn)晶圓級(jí)芯片
測試。

探針臺(tái)連接示意圖